0 0

Киев, 20 октября 2016 года – Корпорация Panasonic поддержала молодых украинских ученых – участников украинского национального тура международного конкурса ISEF «Intel Техно Украина», состоявшегося 11-14 октября в Киеве.

1

 

Intel ISEF – один из крупнейших в мире конкурсов среди старшеклассников, национальные туры которого проводятся в 75 странах, включая Украину. В этом году только на отборочном туре Intel Техно Украина было представлено более 250 проектов школьников из 23 регионов страны, многие из которых были отмечены наградами и почетными грамотами.

2

Национальный тур проходил на базе НТУ «Киевский политехнический институт им. Игоря Сикорского» в рамках фестиваля «Sikorsky fest». 14 октября состоялась церемония награждения победителей и суперфиналистов, которые в мае 2017 года отправятся на международный финал в Лос-Анджелес (Калифорния США).

Корпорация Panasonic не могла остаться в стороне от такого мероприятия и активно поддержала не только сам конкурс, но и молодых украинских ученых, предоставив для них комплекты аккумуляторов eneloop, которые получили все участники конкурса, занявшие призовые места.

3

Социальную инициативу прокомментировал генеральный директор Panasonic в Украине Терадзима Кодзи: «Я надеюсь, что эти молодые ученые смогут построить современную технологическую экономику Украины, как это произошло в Японии после Второй Мировой войны. Тогда, такие известные производители, как Honda, Toyota, Panasonic и Sony, также поддержали научный потенциал молодежи. И я также надеюсь, что теперь в Украине, как и в Японии, многие проекты смогут реализоваться силами молодых ученых, и страна будет успешно развиваться в отрасли высоких технологий».

Средняя цена3500грн.
Рейтинг CHIP
70Пользовательский рейтинг
0

Panasonic Lumix DMC-LX7

    Абсолютными чемпионами среди всех протестированных устройств по светосиле оптики являются модели Panasoni...
  • Качество изображения с высокой детализацией
  • Светосильный объектив
  • Нейтрально-серый фильтр
  • Выносливость батареи
  • Мало ручных настроек
  • Искажения нашироких углах

Дополнительно